마이크로
분광광도계
USPM-RU III

근소한 부분 측정

렌즈의 휘어진 표면은 샘플표면위에 형성된 ø60 µm크기의 근소 부분으로 부터 측정될 수 있습니다. 이것은 휘어진 사이드 렌즈 또는 다른 광학 요소들을 측정하기 위해 고니오미터를 사용하는 기능을 가지고 있습니다.

빠른 결과

빠르고, 반복되는 측정은 평평한 격자와, 라인 센서, 그리고 높은 속도의 분광광도계를 사용함으로써, 몇 초이내에 반복측정을 할 수 있게 합니다..

후면 간섭 감소

표면반사의 정확한 측정은 후방 표면 반사 방지가 필요한 금전적인 과정없이 작동됩니다. 후방 표면 반사광은 특별한 OPTICS를 사용함으로써 줄어듭니다. 특별한 OPTICS는 컨포칼 시스템과 유사한 반사광 포커스 아웃을 막습니다. 광학요소가 구형이든지, 비구형이든지, 평평하든지, USPM-RU III는 안티 반사를 통해 샘플 준비과정을 필요로 하지 않습니다.

Measurement wavelength

380nm – 780nm

Measurement method

Comparison measurement using reference specimen

Sample N.A.*

0.12 (using 10x objective lens) 

0.24 (using 20x objective lens) 

* it differs from objective lens’ N.A.

Sample W.D.

10.1 mm (using 10x objective lens) 

3.1 mm (using 20x objective lens)

Sample curvature radius

-1R – ∞, +1R – ∞

Sample measurement range

Approximately ø60 µm (using 10x objective lens) 

Approximately ø30 µm (using 20x objective lens)

Measurement repeatability (2σ)

±0.1 % and less (during 380 nm – 410 nm measurement) 

±0.01 % and less (during 410 nm – 700 nm measurement)

Display resolution

1 nm

Measurement time

A few secs-several secs (it differs from sampling time)

Light source

Halogen lamp 12 V 100W

Z-direction movement range of the stage

85mm

PC interface

USB

Weight

Unit Approximately 20 kg 

Power source for light source: Approximately 3 kg 

Control box: Approximately 8 kg

External dimensions

Unit: 300 (W) x 550 (D) x 570 (H) mm 

Power source for light source: 150 (w) x 250 (D) x 140 (H) mm 

Control box: 220 (W) x 250 (D) x 140 (H) mm

Power Source

Power source for light source: 100 V (2.8A)/220 V AC 

Control box: 100 V (0.2A)/220V AC

Environment for use

Installed at the horizontal plane with no vibration 

Temperature: 23 ±5°C 

Humidity: 60% or less 

An environment is not subject to air fluctuation