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트윈 원추 스타일러스의 조합으로 상·하면 연속 측정이 가능합니다.
기존 측정으로는 어려웠던 나사의 유효경 등을 상ㆍ하면 연속 측정 데이터를 이용하여 간단히 해석할 수 있습니다.
CV-4500 시리즈용의 일괄 교정 키트(표준부속품)는 상·하 양방향에 스타일러스가 있는 트윈 원추 스타일러스도 간단하게 교정 가능 하도록 리뉴얼하였습니다. Z1축 게인, 대칭성, 스타일러스 반경 등의 번거로운 교정 작업을 한 번에 할 수 있습니다.
측정력은 데이터 처리부(FORMTRACEPAK)에서 지정(5단계) 할 수 있습니다. 무게 추의 교환이나 위치 조정에 의한 측정력 조정 작업은 불필요합니다. 또한 경사 자세에서도 지정된 측정력을 유지합니다
CV-4500 시리즈는 Z1축(검출부)에 고정도 원호 스케일이 탑재되어 있습니다.
스타일러스 선단의 원호 구동을 직독하는 것으로 검출 기구에 의한 오차를 작게 하여 고정도 · 고분해능을 실현하였습니다. X축(구동부)에도 리니어 스케일을 탑재하여 풀 스트로크로 고정도 측정이 가능합니다.
지시정도 ————————————————————————————————————
Z1축(검출부) : ± (0.8 +|2H|/100) µm H = 측정높이 (mm)
X축(구동부) : ± (0.8 + 0.01L) µm ※1 L = 구동길이 (mm)
분해능 —————————————————————————————————————
Z1축(검출부) : 0.02 µm
X축(구동부) :0.05 µm
※1 : CV-4500S4/H4/W4의 사양입니다.
고속 이동 할 때의 안전성을 향상시키기 위하여 Z1축 검출기에 안전 장치 (충돌 시 자동 정지 기능)를 탑재하였습니다. 암이 탈착부에서 떨어지거나 어긋난 경우에도 안전 장치가 작동하여 자동 정지합니다.
CNC 형상 측정기의 풍부한 옵션을 이용하여 보다 편리한 CNC 측정이 가능합니다. 각 옵션의 상세한 내용은 이 페이지를 참고해 주십시오.
사양:
모델 |
CV-4500W4 |
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측정범위 |
X측 |
100mm |
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Z1측 (검출기) |
60mm (수평 방향에서 ±30mm) |
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Z2측 (컬럼) 이동량 |
500mm |
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Z1측 (검출기) |
스케일 타입 |
원호 스케일 |
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분해능 |
0.02µm |
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스타일러스 상하 이동 |
원호 운동 |
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측정 방향 |
전진/후진 |
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측정면 방향 |
수직 방향 (위/아래, 단일 측정) |
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측정압 |
10, 20, 30, 40, 50mN (소프트웨어에서 전환) |
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추종 각도 |
상승: 77°, 하강: 83° (제공된 표준 편각 스타일러스*1 사용, 표면 조도에 따라 달라짐) |
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구동부 |
스케일 타입 |
X측 |
세퍼레이트 리니어 스케일 |
Z2측 (컬럼) |
ABS 스케일 |
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분해능 |
X측 |
0.05µm |
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Z2측 (컬럼) |
1µm |
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구동 속도 |
X측 |
0 ~ 80mm/s 또는 수동 작동 |
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Z2측 (컬럼) |
0 ~ 30mm/s 또는 수동 작동 |
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측정 속도 |
X측 |
0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0, 5.0, 10, 20mm/s |
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진직도*2 |
X측 |
0.8µm/100mm |
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경사 범위 |
X측 |
±45° |
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정도 (20 °C) |
X측 |
±(0.8 + 0.01L)µm L = 이동거리 (mm) 넓은 범위: 1.8µm/100mm 좁은 범위: 1.05µm/25mm |
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Z1측 (검출기) |
± (0.8+|2H|/100)µm H = 수평 위치로부터 측정 높이까지 (mm) |
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외관 치수 (W*D*H) |
본체*3 |
1156x482x1176mm |
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무게 |
본체 |
220kg |
*1: SPH-71 (No.354884)
*2: X측 수평 방향
*3: 본체 베이스 소재는 반려암입니다
주: 측정기 본체 구성품 일부에 자연석을 사용하여 돌 표면에 모양이 있는 경우가 있습니다.